RTS-103DG光數(shù)字繼電保護(hù)測試儀
- 產(chǎn)品分類:光數(shù)字測試儀
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- 主要功能
- 技術(shù)特點(diǎn)
- 技術(shù)指標(biāo)
- 適用范圍
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SCD圖形化
完整解析SCL文件(SCD、CID、ICD),支持圖形化顯示SCD虛端子連接,并實(shí)現(xiàn)對SV、GOOSE、MMS信息的自動配置
數(shù)字故障測試
可模擬SV、GOOSE、FT3異常幀,如丟幀、錯序、抖動、雙A/D不一致、錯值、stNum/sqNum異常、CRC錯誤、品質(zhì)位異常等。
智能終端響應(yīng)時間測試
可測試智能終端開入回路、跳/合閘回路響應(yīng)時間。
GOOSE虛端子測試
可模擬虛端子動作,對GOOSE鏈路進(jìn)行點(diǎn)對點(diǎn)聯(lián)動測試。
數(shù)字示波測試
可自動探測SV、FT3、GOOSE報文并自動匹配SCD文件,分析報文離散度、異常幀、通道數(shù)據(jù)(幅值、相位)、波形等。
同步時鐘測試
可對合并單元裝置對時/守時性能、失步再同步性能進(jìn)行測試。
合并單元精度測試
可對電子式互感器接入式、模擬小信號接入式合并單元精度進(jìn)行測試。
額定延時測試
可對合并單元的額定延時進(jìn)行測試。
PCAP抓包分析
可對SV、FT3、GOOSE報文進(jìn)行抓包,自動標(biāo)記異常幀并告警,支持PCAP文件導(dǎo)出。
PCAP報文回放測試
可對PCAP格式報文進(jìn)行回放,支持報文幀內(nèi)容任意編輯,支持定量/循環(huán)回放,支持巨包、碎包。
網(wǎng)絡(luò)壓力測試
可自由組合SV與Goose產(chǎn)生指定流量的報文輸出,可模擬GOOSE風(fēng)暴輸出。
保護(hù)裝置測試
提供電流電壓、狀態(tài)序列、差動、諧波、低周減載、同期、系統(tǒng)振蕩、整組、阻抗特性、時間特性、Comtrade文件回放等測試。
光功率測量
所有光纖以太網(wǎng)口支持光功率測量。
完整解析SCL文件(SCD、CID、ICD),支持圖形化顯示SCD虛端子連接,并實(shí)現(xiàn)對SV、GOOSE、MMS信息的自動配置
數(shù)字故障測試
可模擬SV、GOOSE、FT3異常幀,如丟幀、錯序、抖動、雙A/D不一致、錯值、stNum/sqNum異常、CRC錯誤、品質(zhì)位異常等。
智能終端響應(yīng)時間測試
可測試智能終端開入回路、跳/合閘回路響應(yīng)時間。
GOOSE虛端子測試
可模擬虛端子動作,對GOOSE鏈路進(jìn)行點(diǎn)對點(diǎn)聯(lián)動測試。
數(shù)字示波測試
可自動探測SV、FT3、GOOSE報文并自動匹配SCD文件,分析報文離散度、異常幀、通道數(shù)據(jù)(幅值、相位)、波形等。
同步時鐘測試
可對合并單元裝置對時/守時性能、失步再同步性能進(jìn)行測試。
合并單元精度測試
可對電子式互感器接入式、模擬小信號接入式合并單元精度進(jìn)行測試。
額定延時測試
可對合并單元的額定延時進(jìn)行測試。
PCAP抓包分析
可對SV、FT3、GOOSE報文進(jìn)行抓包,自動標(biāo)記異常幀并告警,支持PCAP文件導(dǎo)出。
PCAP報文回放測試
可對PCAP格式報文進(jìn)行回放,支持報文幀內(nèi)容任意編輯,支持定量/循環(huán)回放,支持巨包、碎包。
網(wǎng)絡(luò)壓力測試
可自由組合SV與Goose產(chǎn)生指定流量的報文輸出,可模擬GOOSE風(fēng)暴輸出。
保護(hù)裝置測試
提供電流電壓、狀態(tài)序列、差動、諧波、低周減載、同期、系統(tǒng)振蕩、整組、阻抗特性、時間特性、Comtrade文件回放等測試。
光功率測量
所有光纖以太網(wǎng)口支持光功率測量。